布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以進(jìn)行多晶X射線衍射儀檢測(cè)。

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更新時(shí)間：2025-03-19

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三維X射線顯微鏡（XRM）

X射線全自動(dòng)化單晶定向儀 D6 Phaser SKYSCAN 2214 CMOS版 D8 X射線衍射儀

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D8 X射線衍射儀檢測(cè)樣品時(shí)有哪些要求?

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多晶X射線衍射儀檢測(cè)

項(xiàng)目	細(xì)則	收費(fèi)	說(shuō)明
單掃一張圖譜	看d值，相對(duì)強(qiáng)度，不包括物相分析；每樣每次長(zhǎng)15min，延長(zhǎng)時(shí)間按100元15min計(jì)，不足15min按15min計(jì)	/	1.長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)手機(jī)（大于5h）、復(fù)雜樣品等特殊測(cè)試，價(jià)格需面議
晶胞參數(shù)測(cè)定	已知的純物相，掃描時(shí)間≤30min；掃描時(shí)間超過(guò)30min，延長(zhǎng)時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
晶粒尺寸測(cè)定	已知的純物相，掃描時(shí)間≤30min；掃描時(shí)間超過(guò)30min，延長(zhǎng)時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
高分子結(jié)晶度測(cè)試	已知的確定物相，掃描時(shí)間≤1h；掃描時(shí)間超過(guò)1h，延長(zhǎng)時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)	/
階梯掃描法	/	/
物相半定量	僅限于兩種已知物相，掃描時(shí)間≤1h；掃描時(shí)間大于1h，延長(zhǎng)時(shí)間按200元/30min計(jì)，不足30min按30min計(jì)；多出物相，另加100元/相	/

多晶X射線衍射儀檢測(cè)

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過(guò)TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對(duì)光。通過(guò)TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對(duì)光等問(wèn)題從此成為歷史！
高精度的測(cè)角儀可以保證在全譜范圍內(nèi)的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測(cè)量峰位和標(biāo)準(zhǔn)峰位的誤差不超過(guò)0.01度，布魯克AXS公司向大家提供保證！
*的林克斯陣列探測(cè)器可以提高強(qiáng)度150倍，不僅答復(fù)提高設(shè)備的使用效率，而且大幅提高了設(shè)備的探測(cè)靈敏度。

倫琴實(shí)驗(yàn)室：400-100-9267 歡迎咨詢

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